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YZP1732F1 头影放大率一致性测试卡
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OLED 残影测试系统
目前市面主流的OLED 屏幕手机普遍存在烧屏现象,众所周知,烧屏现象是一个长期累积的过程,所以终端厂商普遍要求屏厂提供短期的残影测试报告,以便能够管控OLED 屏幕的品质,降低烧屏现象;ZL-ISS
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HICKMAN微量蒸馏头
应用于微量蒸馏装置.具侧边口,方便长针头取样.配备具孔帽C3507-03和C3507-01,O型圈R3508-06以及四氟垫片T4504-02和P4683-8mm.
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芯硅谷 玻璃蒸馏头
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芯硅谷 搅拌塞头
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摄像头测试卡
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摄像头测试卡
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监控摄像头测试卡
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摄像头测试图卡
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摄像头模组测试卡
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